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KSHW-A型红外薄膜测厚仪

产品分类:
光学检测器/光学检测仪

产品介绍

红外测厚仪是一种非接触式测厚仪,可广泛应用于各种透光及半透光塑料薄膜、纸张、涂胶层等产品的在线测量监控。 仪器采用精密“口”字型扫描机构连续对被测物进行宽度方向上的左右扫描,主处理器采用工控机,它具有数据处理、扫描测量、任意点定点测量、图形曲线显示、偏差报警、数据存储查询等功能。 测量方式: 1、扫描式:主要适用于各种流延膜、压延膜、伸缩膜等薄膜制品的在线测量监控 2、定点式:主要适用于吹膜、肠衣等产品的在线定点测厚,或用于实验室检验。 技术参数: 测量范围:1~400um(可按照要求设定范围) 分辨率:0.1um 测量精度:±1%H±0.3um 扫描宽幅:按照客户要求制定

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