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电镀膜厚测试仪

产品分类:
光学检测器/X射线检查仪

产品介绍

电镀膜厚测试仪X射线荧光分析是快速非破坏性的检测方法,操作简便,准确度高,分析范围广.它已在科学研究、地质、冶金以及其它各部门,得到了广泛的应用,并成为一种重要的分析手段.实验系数法和基本参数法是近十几年发展起来的荧光X射线分析方法.它是借助于电子计算机来完成的,已逐步地用来测定复合物的含量和薄膜的厚度,并得到了良好的效果。 电镀膜厚测试仪采用X光管作X射线源,其能量和强度连续可调,可保证在测量范围内的每个厚度都达到最佳测量精度。 电镀膜厚测试仪 1.用先进的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大。 2.可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上。 3.拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。 4.能够检测各种大小的样品,满足镀层厚度测量和材料分析。 5.新型号设计,快速分析(几秒)1-4层镀层厚度。 6.多款规格,例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台。 7.满足所有样品类型,开槽式样品舱可检测大面积样品,例如印制线路板等。 8.符合ISO3487和ASTM B568检测方法 联系人: 舒翠 手机: 13602568074 电话: 0755-29371655 传真: 0755-29371653 邮箱: sc@kinglinhk.net 地址: 宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502

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