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镀层美国膜厚测试仪

产品分类:
光学检测器/X射线检查仪

产品介绍

镀层美国膜厚测试仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。 电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。 您可以针对您的应用选择最合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。 镀层美国膜厚测试仪的主要特点包括: 成本低、快速、非破坏的分析 镀层美国膜厚测试仪可完成至多4层镀层(另加底材)和15个元素的镀层厚度测试,自动修正X射线重叠谱线 卓越的多元素辨识,广泛覆盖元素表上从铝(原子序数13号)到铀(92号)各元素 测厚行业20年知识和经验的积淀. 镀层美国膜厚测试仪可实现如下测试要求: 符合ISO3497标准测试方法:金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度 符合ASTM B568标准测试方法:X射线光谱仪测量镀层厚度,包括金属和部分非金属镀层 至多同时分析25种元素 经实践验证、坚固、耐用的设计,可在绝大多数严苛的工业条件下使用。 空间占用小 –节约宝贵的工作台空间,也可近产线放置。 计算机提供USB和以太网接口用于连接打印机、光驱和网络。 让客户满意,为客户创造大的价值是金东霖追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图。联系人:舒翠 136 0256 8074 0755-29371655 QQ:2735820760

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