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X射线荧光光谱仪

产品分类:
光学试验仪器

产品介绍

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。 该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行精确分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。 另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。 性能特点 高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平 最新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好 SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比 天瑞仪器专利产品—信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上 低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好 智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围 自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性 高信噪比的电子线路单元 针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐 解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度 多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制 内置高清晰摄像头 液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然 技术参数 产品型号:EDX 4500H 产品名称:X荧光光谱仪 测量元素范围:从钠(Na)到铀(U) 元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同) 同时分析元素:一次性可测几十种元素 分析精度:0.05% (含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性) 测量时间:30秒-200秒 探测器能量分辨率为:145±5eV 管压:5KV-50KV 管流:50μA-1000μA 测量对象状态:粉末、固体、液体 输入电压:AC 110V/220V 环境温度:15℃-30℃ 环境湿度:35%-70% 样品腔体积:320mm×100mm 外形尺寸:660mm×510mm×350mm 重量:65Kg 标准配置 高效超薄窗X光管 SDD硅漂移探测器 数字多道技术 信噪比增强器 SNE 光路增强系统 高信噪比电子线路单元 内置高清晰摄像头 自动切换型准直器和滤光片 自动稳谱装置 三重安全保护模式 可靠的整体钢架结构 90mm×70mm的状态显示液晶屏 真空泵 应用领域 合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)

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公司营业信息

成立日期:2012-11-27
法人代表:宋现菊
企业类型:私营有限责任公司
注册资本:10万
年检时间:2013-11-27