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美国博曼膜厚仪可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等. 二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金. 三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金. 双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等
膜厚测试仪X射线荧光分析是快速非破坏性的检测方法,操作简便,准确度高,分析范围广.它已在科学研究、地质、冶金以及其它各部门,得到了广泛的应用,并成为一种重要的分析手段.实验系数法和基本参数法是近十几年发展起来
美国镀层膜厚仪随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。bowman荧光电镀膜厚仪实现微区下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且,配备有新开发的薄膜
博曼镀层膜厚测试仪产品特点: 即放即测!通过自动定位功能,放置样品后仅需几秒,便能自动对准观察样品焦点。10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量!以最佳的设计实现微小区域下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2
博曼x射线膜厚仪可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Br
bowman镀层膜厚仪可实现如下测试要求: 符合ISO3497标准测试方法:金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度 符合ASTM B568标准测试方法:X射线光谱仪测量镀层厚度,包括金属和部分非金属镀层 bowman镀层膜厚仪至多
博曼镀层膜厚仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。 博曼镀层膜厚仪电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比,从而降低检测下限。 探测器分辨率极高,能更容易地
X-RAY膜厚测试仪可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Br
  列表式温度计、打印机温度计的详细介绍特点:单组输入T1,K型热电偶手持式无线温度记录仪列表机,38mm热打印机(带背光显示)三种操作模式可以选择:(01).单点测量值实时打印功能;(02).储存多点数据后再打印;(03).可
为保证更快、更准的测定油品中硫含量。化验中心采用英国牛津Lab-X3500荧光定硫测定仪进行试样分析,简单的操作,有效而精确的数据,对生产操作指导性更及时、更准确。 Lab-X3500(X射线荧光光谱仪) 2000年8月,
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